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Prodotti

Camera per prove di stress accelerato HAST

Breve descrizione:

L'Highly Accelerated Stress Testing (HAST) è un metodo di prova altamente efficace progettato per valutare l'affidabilità e la durata dei prodotti elettronici. Il metodo simula le sollecitazioni a cui i prodotti elettronici possono essere sottoposti per un lungo periodo di tempo, sottoponendoli a condizioni ambientali estreme – come alte temperature, elevata umidità e alta pressione – per un periodo di tempo molto breve. Questo test non solo accelera l'individuazione di possibili difetti e punti deboli, ma aiuta anche a identificare e risolvere potenziali problemi prima della consegna del prodotto, migliorando così la qualità complessiva del prodotto e la soddisfazione dell'utente.

Oggetti di prova: chip, schede madri, telefoni cellulari e tablet che applicano stress altamente accelerati per stimolare problemi.

1. Adottare la struttura a doppio canale dell'elettrovalvola resistente alle alte temperature importata, per ridurre il più possibile il tasso di guasto.

2. Locale di generazione del vapore indipendente, per evitare l'impatto diretto del vapore sul prodotto, in modo da non causare danni locali al prodotto.

3. Struttura di sicurezza della serratura della porta, per risolvere i difficili difetti della prima generazione di prodotti con maniglia a disco.

4. Scarico dell'aria fredda prima del test; test nella progettazione dell'aria fredda di scarico (scarico dell'aria nel cilindro di prova) per migliorare la stabilità della pressione e la riproducibilità.

5. Tempo di esecuzione sperimentale estremamente lungo, la macchina sperimentale ha funzionato per ben 999 ore.

6. Protezione del livello dell'acqua, tramite la protezione del rilevamento del sensore del livello dell'acqua nella camera di prova.

7. Approvvigionamento idrico: approvvigionamento idrico automatico, l'apparecchiatura è dotata di un serbatoio d'acqua non esposto per garantire che la fonte d'acqua non sia contaminata.


Dettagli del prodotto

Tag dei prodotti

Parametrico

Spazio interno Φ300*D550mm (il tipo di tamburo Φ rappresenta il diametro, D rappresenta la profondità);
Intervallo di temperatura: 105℃~143℃
Intervallo di umidità 75%UR~100%UR
intervallo di pressione 0~0,196 MPa (relativo)
Tempo di riscaldamento Rt~130℃85%RH entro 90 min
Uniformità di distribuzione della temperatura ±1,0℃
Uniformità della distribuzione dell'umidità ± 3%
Stabilità temperatura ± 0,3 ℃, umidità ± 3%
Risoluzione temperatura 0,01℃, umidità 0,1%, pressione 0,01kg, tensione 0,01DCV
Carico scheda madre e altri materiali, carico totale ≤ 10 kg
Tempo di prova 0~999 ore regolabile
Sensore di temperatura PT-100
Materiale della camera di prova acciaio inossidabile SUS316








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